| Item type |
学術雑誌論文 / Journal Article(1) |
| 公開日 |
2023-02-28 |
| タイトル |
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タイトル |
Test Generation for Test Compression Based on Statistical Coding |
| 言語 |
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言語 |
eng |
| キーワード |
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主題 |
VLSI test |
| キーワード |
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主題 |
test compression |
| キーワード |
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主題 |
statistical code |
| キーワード |
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主題 |
test generation |
| キーワード |
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主題 |
automatic test equipment |
| 資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
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資源タイプ |
journal article |
| 著者 |
ICHIHARA, Hideyuki
OGAWA, Atsuhiro
INOUE, Tomoo
TAMURA, Akiko
市原, 英行
井上, 智生
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| 抄録 |
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内容記述タイプ |
Abstract |
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内容記述 |
Test compression/decompression is an efficient method for reducing the test application cost. In this paper we propose a test generation method for obtaining test-patterns suitable to test compression by statistical coding. In general, an ATPG generates a test-pattern that includes don't-care values. In our method, such don't-care values are specified based on an estimation of the final probability of 0/1 occurrence in the resultant test set. Experimental results show that our method can generate test patterns that are able to be highly compressed by statistical coding, in small computational time. |
| 書誌情報 |
IEICE Transactions on Information and Systems
巻 E85-D,
号 10,
p. 1466-1473,
発行日 2002-10-01
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| 出版者 |
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出版者 |
電子情報通信学会(IEICE) |
| ISSN |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
0916-8532 |
| 権利 |
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権利情報 |
copyright©2002IEICE |
| 関連サイト |
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識別子タイプ |
URI |
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関連識別子 |
http://www.ieice.org/jpn/trans_online/index.html |
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関連名称 |
http://www.ieice.org/jpn/trans_online/index.html |
| フォーマット |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
application/pdf |
| 著者版フラグ |
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出版タイプ |
VoR |
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出版タイプResource |
http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 |
E85-D_10 _1466.pdf (308.5 kB)
