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並列テスト生成におけるテストパターン数について
https://hiroshima-cu.repo.nii.ac.jp/records/1804
https://hiroshima-cu.repo.nii.ac.jp/records/1804a5f85c9c-4e6f-4504-bf23-0a6a8f0bd2ea
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
110002930397.pdf (667.4 kB)
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| Item type | テクニカルレポート / Technical Report_02(1) | |||||
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| 公開日 | 2023-05-26 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 並列テスト生成におけるテストパターン数について | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | On the Test Set Size in Parallel Test Generation | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | テスト生成 | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | 並列処理 | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | マルチプロセッサ | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | 故障並列法 | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | テストパターン数 | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||
| 資源タイプ | technical report | |||||
| 著者 |
井上, 智生
× 井上, 智生× 藤原, 秀雄× INOUE, Tomoo× FUJIWARA, Hideo |
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| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | 本稿では,並列テスト生成において生成されるテストパターン数について考察する.複数のプロセッサで同時にテストパターンを生成する並列テスト生成では,一台のプロセッサによる処理に比べて多くのテストパターンを生成する傾向にある.本稿では,生成されるテストパターン数とそのパターンによって検出される故障数との関係を定式化し,並列テスト生成によって生成されるテストパターン数を解析する.さらに,プロセッサ間通信の生成されるテストパターン数への影響について解析し,効果的な通信方法を示す. | |||||
| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | In this paper, we consider the test set size produced in parallel test generation for logic circuits. Since in a multiple processor system, each processor generates test-patterns independently and simultaneously, the total set of test-patterns tends to be larger than that generated by a single processor system. In this paper, we formulate the relation between the number of generatd test-patterns (test set size) and the number of faults detected by the patterns, and analyze the total number of test-patterns produced in parallel test generation. Further, we analyze the influence of communication among processors on the number of test-patterns, and show an effective method of communication which can obtain a small size of test set in parallel test generation. | |||||
| 書誌情報 |
情報処理学会研究報告. 設計自動化研究会報告 巻 93, 号 94, p. 91-98, 発行日 1993-10-28 |
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| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 情報処理学会 | |||||
| 書誌レコードID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AN1011091X | |||||
| 論文ID（NAID） | ||||||
| 関連タイプ | isIdenticalTo | |||||
| 識別子タイプ | NAID | |||||
| 関連識別子 | 110002930397 | |||||
| 権利 | ||||||
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| 権利 | ||||||
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| 権利 | ||||||
| 権利情報 | 本文データは学協会の許諾に基づきCiNiiから複製したものである。 | |||||
| 関連サイト | ||||||
| 識別子タイプ | URI | |||||
| 関連識別子 | http://www.ipsj.or.jp/ | |||||
| 関連名称 | 情報処理学会 | |||||
| フォーマット | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | application/pdf | |||||
| 著者版フラグ | ||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||
