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アイテム
伝搬支配性に着目した遅延テストのためのハイブリッドスキャン設計
https://hiroshima-cu.repo.nii.ac.jp/records/1744
https://hiroshima-cu.repo.nii.ac.jp/records/1744856136d1-c2c5-454e-a315-707c0163b2db
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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IPSJ-SLDM08137022.pdf (987.6 kB)
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Item type | テクニカルレポート / Technical Report_02(1) | |||||
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公開日 | 2023-05-26 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | 伝搬支配性に着目した遅延テストのためのハイブリッドスキャン設計 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | A Hybrid Delay Scan for Delay Testing Based on Propagation Dominance | |||||
言語 | en | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | 遅延故障テスト | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | ハイブリッドスキャン設計 | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | スキュードロードFF選択 | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | 伝搬支配性 | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||
資源タイプ | technical report | |||||
著者 |
怒和, 友美
× 怒和, 友美× 吉川, 祐樹× 市原, 英行× 井上, 智生× NUWA, Tomomi× YOSHIKAWA, Yuki× ICHIHARA, Hideyuki× INOUE, Tomoo |
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抄録 | ||||||
内容記述タイプ | Abstract | |||||
内容記述 | 遅延故障のテスト手法として,スキャンベースの遅延テストであるハイブリッド遅延テストが文献 [1] で提案されている.ハイブリッド遅延テストは,一部のフリップフロップ (FF) をスキュードロード FF (SL-FF) として制御し,残りの FF をブロードサイド FF (BS-FF)として制御することができるハイブリッドスキャン設計により実現する.本研究では,ハイブリッド遅延テストにおける故障検出率の向上を目的として,FF の伝搬支配性に着目した SL-FF 選択のためのヒューリスティック尺度を提案し,それに基づくハイブリッドスキャン設計を行う.また,ハイブリッドスキャン設計された回路はブロードサイドテストも行えることに着目し,ハイブリッド遅延テストと組み合わせた効率的なテスト実行法を述べる.実験では遷移故障の検出率を評価し,提案する SL-FF 選択法の有効性を示す. | |||||
抄録 | ||||||
内容記述タイプ | Abstract | |||||
内容記述 | The hybrid delay scan design [1], where part of FFs can be controlled as skewed-load ones, is an effective method for achieving high delay fault coverage with a small hardware penalty. In this work, we propose a heuristic measure for selecting skewed-load FFs (SL-FFs) based on propagation dominance, referring to the ability of FFs to propagate errors, and present a method for designing hybrid scan based on the proposed measure. Experimental results show that our proposed hybrid scan design is effective in fault coverage and fault efficiency, compared to the previous method [1], especially along with the broad-side test application. | |||||
書誌情報 |
情報処理学会研究報告. SLDM, [システムLSI設計技術] 巻 2008, 号 111, p. 127-132, 発行日 2008-11-10 |
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出版者 | ||||||
出版者 | 情報処理学会 | |||||
ISSN | ||||||
収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
収録物識別子 | 09196072 | |||||
書誌レコードID | ||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||
収録物識別子 | AA11451459 | |||||
権利 | ||||||
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権利 | ||||||
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関連サイト | ||||||
識別子タイプ | URI | |||||
関連識別子 | http://www.ipsj.or.jp/ | |||||
関連名称 | http://www.ipsj.or.jp/ | |||||
フォーマット | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | application/pdf | |||||
著者版フラグ | ||||||
出版タイプ | VoR | |||||
出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 |