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アイテム
テストデータ削減のための必須割当に基づくテストポイント挿入法
https://hiroshima-cu.repo.nii.ac.jp/records/1743
https://hiroshima-cu.repo.nii.ac.jp/records/17431dd4bcf8-9d2d-4c66-a921-eefcb81d4c11
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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IPSJ-SLDM08137021.pdf (954.9 kB)
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Item type | テクニカルレポート / Technical Report_02(1) | |||||
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公開日 | 2023-05-26 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | テストデータ削減のための必須割当に基づくテストポイント挿入法 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | A Test Point Insertion Method for Test Data Reduction Based on Necessary Assignment | |||||
言語 | en | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | テストポイント | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | テストデータ量削減 | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | 含意操作 | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | 必須割当 | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | 故障の衝突 | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_18gh | |||||
資源タイプ | technical report | |||||
著者 |
平本, 和子
× 平本, 和子× 吉川, 祐樹× 市原, 英行× 井上, 智生× HIRAMOTO, Kazuko× YOSHIKAWA, Yuki× ICHIHARA, Hideyuki× INOUE, Tomoo |
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抄録 | ||||||
内容記述タイプ | Abstract | |||||
内容記述 | 本研究では,テストポイント挿入によるテストデータ量の削減法を考案する.故障の中には,同じ信号線に異なる値の割当を必要とするため,同一のテストパターンでは検出できない関係にある故障が存在する.これらの故障はテストポイントの挿入によりその必須割当の衝突を解消でき,同じテストパターンで検出可能となる場合がある.本研究ではこの事実に着目し,テストポイント挿入により解消される必須割当の衝突解消度を示す評価尺度とその評価尺度に基づくスキャン設計のためのテストポイント挿入アルゴリズムを提案する.実験により,テストデータ量を最小にする最適なテストポイント数が存在すること,また,従来法の尺度に比べて提案する評価尺度がテストパターン数を削減可能であることを示す.提案するテストポイント挿入法は少ないテストポイントでテストパターン数だけでなくテストデータ量の削減が可能である. | |||||
抄録 | ||||||
内容記述タイプ | Abstract | |||||
内容記述 | In this work, we discuss a method for reducing test data by test point insertion. Focusing on the fact that test points can resolve conflicts among faults that require different assignments to identical signal lines for detection, we propose a measure of test points for the ability to resolve such fault conflict based on necessary assignments for fault detection. We also present an algorithm for inserting test points in scan design based on the proposed test point measure. The analytical results with experiments show that, there exists an optimal number of test points which minimizes the amount of test data (or the test application time). Experimental results show that our test point insertion method is effective in reducing the test data volume, not just the number of test patterns, with a few test points, and the proposed test point measure is more effective in reducing the test patterns than the mesure reported in previous works. | |||||
書誌情報 |
情報処理学会研究報告. SLDM, [システムLSI設計技術] 巻 2008, 号 111, p. 121-126, 発行日 2008-11-10 |
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出版者 | ||||||
出版者 | 情報処理学会 | |||||
ISSN | ||||||
収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
収録物識別子 | 09196072 | |||||
書誌レコードID | ||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||
収録物識別子 | AA11451459 | |||||
権利 | ||||||
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関連サイト | ||||||
識別子タイプ | URI | |||||
関連識別子 | http://www.ipsj.or.jp/ | |||||
関連名称 | http://www.ipsj.or.jp/ | |||||
フォーマット | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | application/pdf | |||||
著者版フラグ | ||||||
出版タイプ | VoR | |||||
出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 |