| Item type |
学術雑誌論文 / Journal Article(1) |
| 公開日 |
2023-02-28 |
| タイトル |
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タイトル |
高圧縮可能かつコンパクトなテスト生成について |
| タイトル |
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タイトル |
A Test Generation for Compressible and Compact Test Sets |
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言語 |
en |
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言語 |
jpn |
| キーワード |
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主題 |
VLSI |
| キーワード |
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主題 |
テストデータ圧縮 |
| キーワード |
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主題 |
統計型符号 |
| キーワード |
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主題 |
テスト生成 |
| キーワード |
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主題 |
テスト圧縮 |
| 資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
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資源タイプ |
journal article |
| 著者 |
市原, 英行
井上, 智生
ICHIHARA, Hideyuki
INOUE, Tomoo
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| 抄録 |
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内容記述タイプ |
Abstract |
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内容記述 |
VLSIのテスト実行時のコストを削減するために, 統計型符号を用いたテストデータ圧縮・展開法が提案されている. この手法では, 与えられたテスト集合をあらかじめ圧縮しておき, テスト時に展開することを行う. 文献[10]では, テスト集合生成時に統計型符号による圧縮率が高まるようにテスト生成を行う手法が提案されており, 高い圧縮率をもつテスト集合が生成できることが報告されている. 本論文では, 文献[10]に動的テストコンパクションを併用することで, 高い圧縮率を保ったまま, テストベクトル数の小さいテスト集合を生成可能な手法を提案する. ベンチマーク回路に対する実験結果は, 提案手法が小さい計算時間で高圧縮かつコンパクトなテスト集合を生成でき, 結果としてテストデータ量を小さくできることを示している. |
| 書誌情報 |
電子情報通信学会論文誌. D-I, 情報・システム, I-情報処理
巻 J88-D-I,
号 6,
p. 1021-1028,
発行日 2005-06-01
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| 出版者 |
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出版者 |
電子情報通信学会 |
| ISSN |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
09151915 |
| 書誌レコードID |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AA11341020 |
| 権利 |
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権利情報 |
copyright©2005 IEICE |
| 関連サイト |
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識別子タイプ |
URI |
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関連識別子 |
http://www.ieice.org/jpn/trans_online/index.html |
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関連名称 |
http://www.ieice.org/jpn/trans_online/index.html |
| フォーマット |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
application/pdf |
| 著者版フラグ |
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出版タイプ |
VoR |
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出版タイプResource |
http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 |
j88-d1_6_1021.pdf (257.2 kB)
