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アイテム
故障を有するBIST回路の故障見逃しと歩留まり損失に関する一考察
https://hiroshima-cu.repo.nii.ac.jp/records/1586
https://hiroshima-cu.repo.nii.ac.jp/records/15861cc8e238-3d33-4922-9c10-dee97ddf98aa
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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Item type | 会議発表論文 / Conference Paper(1) | |||||||||||||||||||||||
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公開日 | 2023-03-02 | |||||||||||||||||||||||
タイトル | ||||||||||||||||||||||||
タイトル | 故障を有するBIST回路の故障見逃しと歩留まり損失に関する一考察 | |||||||||||||||||||||||
タイトル | ||||||||||||||||||||||||
タイトル | On the Fault Escape and Yield Loss by Faulty BIST Circuits | |||||||||||||||||||||||
言語 | en | |||||||||||||||||||||||
言語 | ||||||||||||||||||||||||
言語 | jpn | |||||||||||||||||||||||
資源タイプ | ||||||||||||||||||||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||||||||||||||||||||
資源タイプ | conference paper | |||||||||||||||||||||||
著者 |
山中, 将嗣
× 山中, 将嗣
× 市原, 英行
× 井上, 智生
× YAMANAKA, Masashi
× ICHIHARA, Hideyuki
× INOUE, Tomoo
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書誌情報 |
電子情報通信学会総合大会講演論文集 巻 2006年_情報・システム, 号 1, p. 116-116, 発行日 2006-03-08 |
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出版者 | ||||||||||||||||||||||||
出版者 | 電子情報通信学会 | |||||||||||||||||||||||
書誌レコードID | ||||||||||||||||||||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||||||||||||
収録物識別子 | AN10471452 | |||||||||||||||||||||||
権利 | ||||||||||||||||||||||||
権利情報 | copyright©2006 IEICE | |||||||||||||||||||||||
権利 | ||||||||||||||||||||||||
権利情報 | 本文データは学協会の許諾に基づきCiNiiから複製したものである。 | |||||||||||||||||||||||
関連サイト | ||||||||||||||||||||||||
識別子タイプ | URI | |||||||||||||||||||||||
関連識別子 | http://ci.nii.ac.jp/naid/110006216783 | |||||||||||||||||||||||
関連名称 | CiNii Research | |||||||||||||||||||||||
フォーマット | ||||||||||||||||||||||||
内容記述タイプ | Other | |||||||||||||||||||||||
内容記述 | application/pdf | |||||||||||||||||||||||
著者版フラグ | ||||||||||||||||||||||||
出版タイプ | VoR | |||||||||||||||||||||||
出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 |