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アイテム
MOSFET しきい値電圧ばらつき評価用試験回路
https://hiroshima-cu.repo.nii.ac.jp/records/1510
https://hiroshima-cu.repo.nii.ac.jp/records/1510099d03e7-8ec4-4df0-8ad4-a07350eaffe5
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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110003321299.pdf (97.5 kB)
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| Item type | 会議発表論文 / Conference Paper(1) | |||||||||||||||||
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| 公開日 | 2023-03-02 | |||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||
| タイトル | MOSFET しきい値電圧ばらつき評価用試験回路 | |||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||
| タイトル | A Test Circuit for Measuring MOSFET Threshold Voltage Mismatch | |||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||||||||||||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||||||||||||||
| 著者 |
寺田, 和夫
× 寺田, 和夫
× 永光, 正知
× TERADA, Kazuo
× EIMITSU, Masatomo
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| 書誌情報 |
電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集 巻 2003年_エレクトロニクス, 号 2, p. 67, 発行日 2003-09-10 |
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| 出版者 | ||||||||||||||||||
| 出版者 | 電子情報通信学会 | |||||||||||||||||
| 書誌レコードID | ||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||||||
| 収録物識別子 | AN10489017 | |||||||||||||||||
| 論文ID（NAID） | ||||||||||||||||||
| 関連タイプ | isIdenticalTo | |||||||||||||||||
| 識別子タイプ | NAID | |||||||||||||||||
| 関連識別子 | 110003321299 | |||||||||||||||||
| 権利 | ||||||||||||||||||
| 権利情報 | copyright©2003 IEICE | |||||||||||||||||
| 権利 | ||||||||||||||||||
| 権利情報 | 本文データは学協会の許諾に基づきCiNiiから複製したものである。 | |||||||||||||||||
| 関連サイト | ||||||||||||||||||
| 識別子タイプ | URI | |||||||||||||||||
| 関連識別子 | http://ci.nii.ac.jp/naid/110003321299 | |||||||||||||||||
| 関連名称 | CiNii Research | |||||||||||||||||
| フォーマット | ||||||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||||||||
| 内容記述 | application/pdf | |||||||||||||||||
| 著者版フラグ | ||||||||||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||||||||||
