| Item type |
会議発表論文 / Conference Paper(1) |
| 公開日 |
2023-03-02 |
| タイトル |
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タイトル |
ケルビン測定法の検討 |
| 言語 |
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言語 |
jpn |
| キーワード |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
ケルビン |
| キーワード |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
MOSFET |
| キーワード |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
特性ばらつき |
| 資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 |
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資源タイプ |
conference paper |
| 著者 |
茶川, 徹雄
寺田, 和夫
CHAGAWA, Tetsuo
TERADA, Kazuo
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| 抄録 |
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内容記述タイプ |
Abstract |
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内容記述 |
MOSFETの微細化に伴い、大量の同一MOSFETの特性を測定して、その特性ばらつきを把握することが重要になっている。そのため、デコーダを用いて共通探針用パッドから大量の同一MOSFETを測定できるようにしたDMA(Device Matrix Array)回路が提案されている。しかし、DMAではスイッチイングに用いられるトランスファゲートの寄生抵抗の影響により、通常の方法では正確な測定はできない場合がある。本研究ではケルビン測定法を用いてトランスファゲートの影響を除く方法について検討する。 |
| 書誌情報 |
電気・情報関連学会中国支部連合大会講演論文集
巻 58,
p. 117,
発行日 2007-10
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| 出版者 |
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出版者 |
電気・情報関連学会中国支部 |
| フォーマット |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
application/pdf |
| 著者版フラグ |
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出版タイプ |
VoR |
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出版タイプResource |
http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 |
p117_0404-4.pdf (176.3 kB)
