Item type |
学術雑誌論文 / Journal Article(1) |
公開日 |
2023-02-28 |
タイトル |
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タイトル |
A Variable-Length Coding Adjustable for Compressed Test Application |
言語 |
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言語 |
eng |
キーワード |
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主題 |
test compression |
キーワード |
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主題 |
variable-length coding |
キーワード |
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主題 |
test application time |
キーワード |
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主題 |
ATE |
キーワード |
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主題 |
Huffman code |
キーワード |
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主題 |
and test environment |
資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
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資源タイプ |
journal article |
著者 |
ICHIHARA, Hideyuki
OHARA, Toshihiro
SHINTANI, Michihiro
INOUE, Tomoo
市原, 英行
井上, 智生
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抄録 |
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内容記述タイプ |
Abstract |
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内容記述 |
Test compression / decompression using variable-length coding is an efficient method for reducing the test application cost, i.e., test application time and the size of the storage of an LSI tester. However, some coding techniques impose slow test application, and consequently a large test application time is required despite the high compression. In this paper, we clarify the fact that test application time depends on the compression ratio and the length of codewords and then propose a new Huffman-based coding method for achieving small test application time in a given test environment. The proposed coding method adjusts both of the compression ratio and the minimum length of the codewords to the test environment. Experimental results show that the proposed method can achieve small test application time while keeping high compression ratio. |
書誌情報 |
IEICE Transactions on Information and Systems
巻 E90-D,
号 8,
p. 1235-1242,
発行日 2007-08-01
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出版者 |
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出版者 |
電子情報通信学会(IEICE) |
ISSN |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
0916-8532 |
権利 |
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権利情報 |
copyright©2007 IEICE |
関連サイト |
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識別子タイプ |
URI |
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関連識別子 |
http://www.ieice.org/jpn/trans_online/index.html |
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関連名称 |
http://www.ieice.org/jpn/trans_online/index.html |
フォーマット |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
application/pdf |
著者版フラグ |
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出版タイプ |
VoR |
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出版タイプResource |
http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 |