| Item type |
学術雑誌論文 / Journal Article(1) |
| 公開日 |
2023-02-28 |
| タイトル |
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タイトル |
A Self-Test of Dynamically Reconfigurable Processors with Test Frames |
| 言語 |
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言語 |
eng |
| キーワード |
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主題 |
dynamically reconfigurable processors |
| キーワード |
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主題 |
self-test |
| キーワード |
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主題 |
optimal contexts |
| キーワード |
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主題 |
test application time |
| キーワード |
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主題 |
test frames |
| 資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
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資源タイプ |
journal article |
| 著者 |
INOUE, Tomoo
FUJII, Takashi
ICHIHARA, Hideyuki
井上, 智生
市原, 英行
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| 抄録 |
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内容記述タイプ |
Abstract |
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内容記述 |
This paper proposes a self-test method of coarse grain dynamically reconfigurable processors (DRPs) without hardware overhead. In the method, processor elements (PEs) compose a test frame, which consists of test pattern generators (TPGs), processor elements under test (PEUTs) and response analyzers (RAs), while testing themselves one another by changing test frames appropriately. We design several test frames with different structures, and discuss the relationship of the structures to the numbers of contexts and test frames for testing all the functions of PEs. A case study shows that there exists an optimal test frame which minimizes the test application time under a constraint. |
| 書誌情報 |
IEICE Transactions on Information and Systems
巻 E91-D,
号 3,
p. 756-762,
発行日 2008-03-01
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| 出版者 |
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出版者 |
電子情報通信学会(IEICE) |
| ISSN |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
0916-8532 |
| 権利 |
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権利情報 |
copyright©2008IEICE |
| 関連サイト |
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識別子タイプ |
URI |
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関連識別子 |
http://www.ieice.org/jpn/trans_online/index.html |
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関連名称 |
http://www.ieice.org/jpn/trans_online/index.html |
| フォーマット |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
application/pdf |
| 著者版フラグ |
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出版タイプ |
VoR |
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出版タイプResource |
http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 |
E91-D_3 _756.pdf (809.9 kB)
