| Item type |
学術雑誌論文 / Journal Article(1) |
| 公開日 |
2023-02-28 |
| タイトル |
|
|
タイトル |
無閉路部分スキャン設計に基づくデータパスのテスト容易化高位合成におけるバインディング手法 |
| タイトル |
|
|
タイトル |
A Binding Method in High-Level Synthesis for Testable Data Paths Based on Acyclic Partial Scan Design |
|
言語 |
en |
| 言語 |
|
|
言語 |
jpn |
| キーワード |
|
|
主題 |
高位合成 |
| キーワード |
|
|
主題 |
部分スキャン設計 |
| キーワード |
|
|
主題 |
無閉路構造 |
| キーワード |
|
|
主題 |
最小クリーク分割 |
| キーワード |
|
|
主題 |
データパス |
| 資源タイプ |
|
|
資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
|
資源タイプ |
journal article |
| 著者 |
高橋, 智也
井上, 智生
藤原, 秀雄
TAKAHASHI, Tomoya
INOUE, Tomoo
FUJIWARA, Hideo
|
| 抄録 |
|
|
内容記述タイプ |
Abstract |
|
内容記述 |
本論文では, 無閉路構造に基づく部分スキャン設計のための, データパスのテスト容易化高位合成手法を提案する.スケジュールされた動作記述(データフローグラフ)に対して, 面積(リソース数)の最小性を満たしながら, 無閉路化のためのスキャンレジスタ数を最小にする演算器とレジスタのバインディング法を提案する.本手法は, テスト容易性を考慮しない従来手法と比較して, リソース数を増やすことなく, 無閉路化のためのスキャンレジスタ数の小さいレジスタ転送レベルデータパスを合成することができる. |
| 書誌情報 |
電子情報通信学会論文誌. D-I, 情報・システム, I-情報処理
巻 J83-D-I,
号 2,
p. 282-292,
発行日 2000-02-25
|
| 出版者 |
|
|
出版者 |
電子情報通信学会 |
| ISSN |
|
|
収録物識別子タイプ |
ISSN |
|
収録物識別子 |
09151915 |
| 書誌レコードID |
|
|
収録物識別子タイプ |
NCID |
|
収録物識別子 |
AA11341020 |
| 権利 |
|
|
権利情報 |
copyright©2000 IEICE |
| 関連サイト |
|
|
|
識別子タイプ |
URI |
|
|
関連識別子 |
http://www.ieice.org/jpn/trans_online/index.html |
|
|
関連名称 |
http://www.ieice.org/jpn/trans_online/index.html |
| フォーマット |
|
|
内容記述タイプ |
Other |
|
内容記述 |
application/pdf |
| 著者版フラグ |
|
|
出版タイプ |
VoR |
|
出版タイプResource |
http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 |
j83-d1_2_282.pdf (729.2 kB)
