Item type |
学術雑誌論文 / Journal Article(1) |
公開日 |
2023-02-28 |
タイトル |
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タイトル |
テスト数制限下でのテスト入力集合の選択手法について |
タイトル |
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タイトル |
On Test Pattern Selection with a Limited Number of Tests |
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言語 |
en |
言語 |
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言語 |
jpn |
キーワード |
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主題 |
テスト生成 |
キーワード |
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主題 |
テスト圧縮 |
キーワード |
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主題 |
故障検出率 |
キーワード |
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主題 |
IDDQテスト |
資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
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資源タイプ |
journal article |
著者 |
市原, 英行
梶原, 誠司
樹下, 行三
ICHIHARA, Hideyuki
KAJIHARA, Seiji
KINOSHITA, Kozo
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抄録 |
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内容記述タイプ |
Abstract |
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内容記述 |
テスト生成の研究では, テスト時間を短縮するためにより小さいテスト集合を得ることが重要な目標の一つとなっている. 本論文では, テスト数が上限をもつ条件下でのテスト手法について考察する. テスト数が制限されているときには, 検出可能な故障をすべて検出するために十分なテストを生成できないため, 代表故障を対象としたテスト選択と全故障を対象としたテスト選択では故障検出率に差が生じ, 得られるテスト集合の評価に影響を及ぼす. この問題に対して, ここでは, 重み付き故障リストを用いてテストを選択することにより, テスト数が制限されている条件下で高い故障検出率をもつテスト集合を得る方法を提案している. ブリッジ故障を対象としたIDDQテストに対する実験結果により, 提案したテスト選択手法の有効性を示している. |
書誌情報 |
電子情報通信学会論文誌. D-I, 情報・システム, I-情報処理
巻 J82-D-I,
号 7,
p. 861-868,
発行日 1999-07-25
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出版者 |
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出版者 |
電子情報通信学会 |
ISSN |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
09151915 |
書誌レコードID |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AA11341020 |
権利 |
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権利情報 |
copyright©1999 IEICE |
関連サイト |
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識別子タイプ |
URI |
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関連識別子 |
http://www.ieice.org/jpn/trans_online/index.html |
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関連名称 |
http://www.ieice.org/jpn/trans_online/index.html |
フォーマット |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
application/pdf |
著者版フラグ |
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出版タイプ |
VoR |
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出版タイプResource |
http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 |