| Item type |
学術雑誌論文 / Journal Article(1) |
| 公開日 |
2023-02-28 |
| タイトル |
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タイトル |
並列接続MOSFETを用いたしきい値電圧標準偏差の測定評価 |
| タイトル |
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タイトル |
Measurement of Standard Deviation for Threshold Voltage Using Parallel-Connected MOSFETs |
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言語 |
en |
| 言語 |
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言語 |
jpn |
| キーワード |
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主題 |
MOSFET |
| キーワード |
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主題 |
しきい値電圧 |
| キーワード |
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主題 |
標準偏差 |
| キーワード |
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主題 |
ドレーン電流 |
| キーワード |
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主題 |
テスト回路 |
| キーワード |
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主題 |
並列接続 |
| 資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
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資源タイプ |
journal article |
| 著者 |
寺田, 和夫
最上, 徹
TERADA, Kazuo
MOGAMI, Toru
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| 抄録 |
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内容記述タイプ |
Abstract |
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内容記述 |
大量の同一構造MOSFETを並列接続したテスト回路を用いて,しきい値電圧の標準偏差を簡単に測定する方法を提案している.このテスト回路を一つのMOSFETとみなし,そのドレーン電流とゲート電圧の関係からしきい値電圧を抽出すると,その値は同回路に含まれるすべてのMOSFETのしきい値電圧の平均値よりも標準偏差に関係した量だけ異なる値を示す.このことを利用すると,MOSFETのしきい値電圧標準偏差を簡単に測定することができる.本論文はその測定原理,単体MOSFETを用いたその実験的確認,そして精度に関する議論を述べている. |
| 書誌情報 |
電子情報通信学会論文誌. C-II, エレクトロニクス, II-電子素子・応用
巻 J79-C2,
号 11,
p. 691-697,
発行日 1996-11-25
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| 出版者 |
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出版者 |
電子情報通信学会 |
| ISSN |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
0915-1907 |
| 書誌レコードID |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AN10071294 |
| 論文ID（NAID） |
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関連タイプ |
isIdenticalTo |
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識別子タイプ |
NAID |
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関連識別子 |
110003314865 |
| 権利 |
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権利情報 |
copyright©1996 IEICE |
| 関連サイト |
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識別子タイプ |
URI |
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関連識別子 |
http://www.ieice.org/jpn/trans_online/index.html |
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関連名称 |
http://www.ieice.org/jpn/trans_online/index.html |
| フォーマット |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
application/pdf |
| 著者版フラグ |
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出版タイプ |
VoR |
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出版タイプResource |
http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 |
J79-C2_11_691.pdf (486.2 kB)
