| Item type |
学術雑誌論文 / Journal Article(1) |
| 公開日 |
2023-02-28 |
| タイトル |
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タイトル |
並列接続MOSFETを用いたしきい値電圧標準偏差の測定評価 |
| タイトル |
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タイトル |
Measurement of Standard Deviation for Threshold Voltage Using Parallel-Connected MOSFETs |
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言語 |
en |
| 言語 |
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言語 |
jpn |
| 資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
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資源タイプ |
journal article |
| 著者 |
寺田, 和夫
最上, 徹
TERADA, Kazuo
MOGAMI, Toru
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| 抄録 |
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内容記述タイプ |
Abstract |
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内容記述 |
MOSLSIの高集積化が進むに従い、MOSFET特性の標準偏差を簡単に評価する方法が重要になっている。本研究では、同一構造MOSFETを並列接続したものを1つのMOSFETのように取り扱うことによって、簡単にしきい値電圧の標準偏差を測定する方法を提案し、その実現可能性を調べる。 |
| 書誌情報 |
電子情報通信学会総合大会講演論文集
巻 1996年.エレクトロニクス,
号 2,
p. 134,
発行日 1996-03-11
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| 出版者 |
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出版者 |
電子情報通信学会 |
| 書誌レコードID |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AN10471452 |
| 論文ID（NAID） |
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関連タイプ |
isIdenticalTo |
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識別子タイプ |
NAID |
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関連識別子 |
110003245388 |
| 権利 |
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権利情報 |
copyright©1996 IEICE |
| 権利 |
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権利情報 |
本文データは学協会の許諾に基づきCiNiiから複製したものである。 |
| 関連サイト |
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識別子タイプ |
URI |
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関連識別子 |
http://ci.nii.ac.jp/naid/110003245388 |
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関連名称 |
CiNii Research |
| フォーマット |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
application/pdf |
| 著者版フラグ |
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出版タイプ |
VoR |
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出版タイプResource |
http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 |
110003245388.pdf (92.8 kB)
