ログイン
言語:

WEKO3

  • トップ
  • ランキング
To
lat lon distance
To

Field does not validate



インデックスリンク

インデックスツリー

メールアドレスを入力してください。

WEKO

One fine body…

WEKO

One fine body…

アイテム

  1. 学術雑誌論文
  2. 情報処理学会論文誌

回路疑似変換による順序回路テスト生成の一手法

https://hiroshima-cu.repo.nii.ac.jp/records/1156
https://hiroshima-cu.repo.nii.ac.jp/records/1156
78c04aca-1408-45dc-a058-af6309c4e8a8
名前 / ファイル ライセンス アクション
110002721556.pdf 110002721556.pdf (940.8 kB)
Item type 学術雑誌論文 / Journal Article(1)
公開日 2023-02-28
タイトル
タイトル 回路疑似変換による順序回路テスト生成の一手法
タイトル
タイトル An Approach to Sequential Test Generation by Circuit Pseudo-transformation
言語 en
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
著者 大竹, 哲史

× 大竹, 哲史

大竹, 哲史

ja-Kana オオタケ, サトシ

Search repository
井上, 智生

× 井上, 智生

井上, 智生

ja-Kana イノウエ, トモオ

Search repository
藤原, 秀雄

× 藤原, 秀雄

藤原, 秀雄

ja-Kana フジワラ, ヒデオ

Search repository
OHTAKE, Satoshi

× OHTAKE, Satoshi

en OHTAKE, Satoshi

Search repository
INOUE, Tomoo

× INOUE, Tomoo

en INOUE, Tomoo

Search repository
FUJIWARA, Hideo

× FUJIWARA, Hideo

en FUJIWARA, Hideo

Search repository
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 組合せテスト生成複雑度でテスト生成可能な順序回路では, その順序回路のテスト生成問題は, フリップフロップを信号線に置き換えた (組合せ変換した) 組合せ回路におけるテスト生成問題に帰着できる. 本論文では, この性質を一般の順序回路に拡張する. 具体的には, 与えられた順序回路において, 平衡構造を有する部分回路を抽出し, その部分回路を組合せ変換した順序回路についてテスト生成を行い, 得られたテスト系列を元の順序回路のテスト系列に戻すというテスト生成法を提案する. この手法では, 組合せ変換によってフリップフロップ数が減少するので, 元の順序回路よりフリップフロップ数が減少している分だけテスト生成時間の短縮が期待できる. 提案する手法の有効性を ISCAS '89ベンチマーク回路による実験によって評価する.
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 / The test generation problem for a sequential circuit capable of generating tests with combinational test generation complexity can be reduced to that for the combinational circuit formed by replacing each FF in the sequential circuit by a wire. In this paper, we consider an application of this approach to general sequential circuits. We propose a test generation method using circuit pseudo-transformation technique: given a sequential circuit, we extract a subcircuit with balanced structure which is capable of generating tests with combinational test generation complexity, replace each FF in the subcircuit by wire, generate test sequences for the transformed sequential circuit, and finally obtain test sequences for the original sequential circuit We also estimate the effectiveness of the proposed method by experiment with ISCAS '89 benchmark circuits.
書誌情報 情報処理学会論文誌

巻 38, 号 5, p. 1040-1049, 発行日 1997-05-15
出版者
出版者 社団法人情報処理学会
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 0387-5806
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AN00116647
論文ID(NAID)
関連タイプ isIdenticalTo
識別子タイプ NAID
関連識別子 110002721556
権利
権利情報 ここに掲載した著作物の利用に関する注意:本著作物の著作権は(社)情報処理学会に帰属します。本著作物は著作権者である情報処理学会の許可のもとに掲載するものです。ご利用に当たっては「著作権法」ならびに「情報処理学会倫理綱領」に従うことをお願いいたします。
権利
権利情報 The copyright of this material is retained by the Information Processing Society of Japan (IPSJ). This material is published on this web site with the agreement of the author (s) and the IPSJ. Please be complied with Copyright Law of Japan and the Code of Ethics of the IPSJ if any users wish to reproduce, make derivative work, distribute or make available to the public any part or whole thereof. All Rights Reserved, Copyright (C) Information Processing Society of Japan.
権利
権利情報 本文データは学協会の許諾に基づきCiNiiから複製したものである。
関連サイト
識別子タイプ URI
関連識別子 https://cir.nii.ac.jp/crid/1050282812863316224
関連名称 CiNii Research
関連サイト
識別子タイプ URI
関連識別子 https://ipsj.ixsq.nii.ac.jp/ej/?action=pages_view_main&active_action=repository_view_main_item_detail&item_id=13411&item_no=1&page_id=13&block_id=8
関連名称 情報処理学会電子図書館
関連サイト
識別子タイプ URI
関連識別子 http://www.ipsj.or.jp/
関連名称 情報処理学会
フォーマット
内容記述タイプ Other
内容記述 application/pdf
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
戻る
0
views
See details
Views

Versions

Ver.1 2023-07-25 10:36:49.988142
Show All versions

Share

Mendeley Twitter Facebook Print Addthis

Cite as

エクスポート

OAI-PMH
  • OAI-PMH JPCOAR 2.0
  • OAI-PMH JPCOAR 1.0
  • OAI-PMH DublinCore
  • OAI-PMH DDI
Other Formats
  • JSON
  • BIBTEX

Confirm


Powered by WEKO3


Powered by WEKO3