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oai:hiroshima-cu.repo.nii.ac.jp:00001586 2023-07-25T10:31:53Z 52:315:345

故障を有するBIST回路の故障見逃しと歩留まり損失に関する一考察 On the Fault Escape and Yield Loss by Faulty BIST Circuits 山中, 将嗣 ヤマナカ, マサシ 市原, 英行 イチハラ, ヒデユキ 井上, 智生 イノウエ, トモオ YAMANAKA, Masashi ICHIHARA, Hideyuki INOUE, Tomoo application/pdf conference paper 電子情報通信学会 2006-03-08 VoR application/pdf 電子情報通信学会総合大会講演論文集 1 2006年_情報・システム 116 116 AN10471452 https://hiroshima-cu.repo.nii.ac.jp/record/1586/files/110006216783.pdf https://hiroshima-cu.repo.nii.ac.jp/records/1586 jpn CiNii Research http://ci.nii.ac.jp/naid/110006216783 copyright©2006 IEICE 本文データは学協会の許諾に基づきCiNiiから複製したものである。