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oai:hiroshima-cu.repo.nii.ac.jp:00001267 2023-07-25T10:49:00Z 1:203

高圧縮可能かつコンパクトなテスト生成について A Test Generation for Compressible and Compact Test Sets 市原, 英行 イチハラ, ヒデユキ 井上, 智生 イノウエ, トモオ ICHIHARA, Hideyuki INOUE, Tomoo copyright©2005 IEICE VLSI テストデータ圧縮 統計型符号 テスト生成 テスト圧縮 application/pdf VLSIのテスト実行時のコストを削減するために, 統計型符号を用いたテストデータ圧縮・展開法が提案されている. この手法では, 与えられたテスト集合をあらかじめ圧縮しておき, テスト時に展開することを行う. 文献[10]では, テスト集合生成時に統計型符号による圧縮率が高まるようにテスト生成を行う手法が提案されており, 高い圧縮率をもつテスト集合が生成できることが報告されている. 本論文では, 文献[10]に動的テストコンパクションを併用することで, 高い圧縮率を保ったまま, テストベクトル数の小さいテスト集合を生成可能な手法を提案する. ベンチマーク回路に対する実験結果は, 提案手法が小さい計算時間で高圧縮かつコンパクトなテスト集合を生成でき, 結果としてテストデータ量を小さくできることを示している. 電子情報通信学会 2005-06-01 jpn journal article VoR https://hiroshima-cu.repo.nii.ac.jp/records/1267 http://www.ieice.org/jpn/trans_online/index.html http://www.ieice.org/jpn/trans_online/index.html AA11341020 09151915 電子情報通信学会論文誌. D-I, 情報・システム, I-情報処理 J88-D-I 6 1021 1028 https://hiroshima-cu.repo.nii.ac.jp/record/1267/files/j88-d1_6_1021.pdf application/pdf 257.2 kB 2023-02-28